ナノビームX線回折法による改良型NaフラックスGaNバルク単結晶の深さ方向結晶構造解析
ナノビームX線回折法による改良型NaフラックスGaNバルク単結晶の深さ方向結晶構造解析
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使用纳米束 X 射线衍射法对改进的 Na 通量 GaN 块状单晶进行深度晶体结构分析
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
志田和己，山本望，藤平哲也，今西正幸，森勇介，隅谷和嗣，今井康彦，木村滋，酒井朗
中科院分区：
文献类型：
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作者：
志田和己;藤平哲也;Andreas Schulze;Matty Caymax;三宅秀人;平松和政;隅谷和嗣;今井康彦;木村滋;酒井朗;志田和己，山本望，藤平哲也，今西正幸，森勇介，隅谷和嗣，今井康彦，木村滋，酒井朗
