Exploiting Automatic Image Processing and In-situ Transmission Electron Microscopy to Understand the Stability of Supported Nanoparticles
Exploiting Automatic Image Processing and In-situ Transmission Electron Microscopy to Understand the Stability of Supported Nanoparticles
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利用自动图像处理和原位透射电子显微镜来了解负载纳米颗粒的稳定性
DOI：
10.1017/s1431927622011588
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发表时间：
2022
影响因子：
2.8
通讯作者：
Stach, Eric A.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Horwath, James P.;Vyas, Leena;Zakharov, Dmitri N.;Mégret, Rémi;Voorhees, Peter W.;Stach, Eric A.
