Magneto-optical linear dichroism in threshold photoemission electron microscopy of polycrystalline Fe films.
Magneto-optical linear dichroism in threshold photoemission electron microscopy of polycrystalline Fe films.
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多晶铁薄膜阈值光发射电子显微镜中的磁光线性二色性。
DOI：
10.1103/physrevlett.84.5888
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发表时间：
2000
影响因子：
8.6
通讯作者：
G. Schönhense
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
G. Marx;H. Elmers;G. Schönhense
阈值光发射中的磁线性二向色性已被用来在使用汞弧灯的光发射电子显微镜中获得磁对比度。阈值处的二色性可以类似于可见光区域中的磁光克尔效应来描述。硅上100 nm多晶Fe薄膜观察到的电子强度不对称性为A=(0.37+/-0.05)%。横向克尔效应的几何形状不对称。对于非偏振光，不对称性大约是线性偏振光观察到的值的一半。阈值光电子显微镜在具有快速数据采集的高分辨率磁域成像方面具有巨大潜力。
Magnetic linear dichroism in threshold photoemission has been exploited to obtain magnetic contrast in a photoemission electron microscope using a mercury arc lamp. The dichroism at threshold can be described similar to the magneto-optical Kerr effect in the region of visible light. The asymmetry of electron intensity observed for a 100 nm polycrystalline Fe film on silicon is A=(0.37+/-0.05)%. The asymmetry occurs for the geometry of the transverse Kerr effect. For unpolarized light the asymmetry was about half the value observed for linearly polarized light. Threshold photoemission microscopy has a large potential for high resolution magnetic domain imaging with fast data acquisition.
17 世纪和 18 世纪特拉华谷的殖民和环境 - 聚焦帝国的作用
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
西村真由子;長塩亮;佐藤雄一;長谷川孝幸;鰐淵秀一;Shuichi Wanibuchi;鰐淵秀一;鰐淵秀一;鰐淵秀一
通讯作者：
鰐淵秀一