ケルビンフォース顕微鏡（KFM）による半導体および酸化物の表面電位観察
ケルビンフォース顕微鏡（KFM）による半導体および酸化物の表面電位観察
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使用开尔文力显微镜 (KFM) 观察半导体和氧化物的表面电位
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
有田 誠
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fabi Zhang;Makoto Arita;Xu Wang;Zhengwei Chen;Katsuhiko Saito;Tooru Tanaka;Mitsuhiro Nishio;Teruaki Motooka;and Qixin Guo;Makoto ARITA;有田 誠
