Two in one: making electron and ion measurements using a single MCP in future top hat instruments
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二合一：在未来的顶帽仪器中使用单个 MCP 进行电子和离子测量
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Robert Bedington
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Furrer;M. Berta;M. Christandl;V. Scholz;M. Tomamichel;Michele Torielli;Michele Torielli;M. Torielli;Robert Bedington
