Development of alpha surface contamination monitor based on THGEM for contamination distribution
Development of alpha surface contamination monitor based on THGEM for contamination distribution
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开发基于 THGEM 的 α 表面污染监测仪，用于污染分布
DOI：
10.1007/s41365-019-0678-z
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发表时间：
2019-09
影响因子：
2.8
通讯作者：
Chen Shi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xiao Si Min;Luo Zhi Ping;Liu Qian;Yuan Guo Jun;Pang Hong Chao;Liu Yang;Huang Jin Feng;Chen Shi
在高辐射紧急情况下，我们提出了一种表面污染监测器（SCM），可以快速测量和查明受影响人群中的污染分布。厚膜气体电子倍增器（THGEM）具有响应时间快、空间分辨率好等优点。基于新的THGEMs，一个二维成像探测器的α检测，与位置分辨率大于3毫米。本文介绍了探测器的设计和测试结果。具有40 mm × 40 mm敏感区域的快速辐射成像SCM目前正在开发中。
In cases of high radiation emergencies, we propose a surface contamination monitor (SCM) that can quickly measure and pinpoint the contamination distribution in the affected population. Thick gaseous electron multiplier (THGEM) has several advantages, including fast response time and good spatial resolution. Based on new THGEMs, a two-dimensional imaging detector was developed for alpha detection, with a position resolution greater than 3 mm. The detector design and test results are described in this paper. Fast radiation imaging SCMs, with a 40 mm × 40 mm sensitive area, are currently under development.
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密封高气压THGEM探测器及α粒子光谱响应的研究
影响因子：
3.6
作者：
Yu-Ning ZHANG;Qian LIU;Hong-Bang LIU;Yi-Gang XIE;Xiao-Rui LYU;Shi Chen;Wen-Qian Huang;Dao-Jin HONG;Yang-Heng Zheng
通讯作者：
Yang-Heng Zheng
影响因子：
1
作者：
Wi-Ho Ha;Tae-Eun Kwon;Jewan Kim;Y. Jin
通讯作者：
Wi-Ho Ha;Tae-Eun Kwon;Jewan Kim;Y. Jin
DOI：
10.1142/s0217751x18430078
发表时间：
2018-03
期刊：
arXiv: Instrumentation and Detectors
影响因子：
--
作者：
F. Danevich;V. Tretyak
通讯作者：
F. Danevich;V. Tretyak
DOI：
10.1016/j.nima.2014.07.046
发表时间：
2014-11-11
影响因子：
1.4
作者：
Morishita, Yuki;Yamamoto, Seiichi;Higuchi, Mikio
通讯作者：
Higuchi, Mikio
影响因子：
1.3
作者：
H. Liu;Q. Liu;S. Chen;C. Nicholson;Y. Xie;Y. Zheng;Z. Zheng;J. Lu;L. Zhou;A. Tang;Y. Yang;Y. Dong;M. Li
通讯作者：
H. Liu;Q. Liu;S. Chen;C. Nicholson;Y. Xie;Y. Zheng;Z. Zheng;J. Lu;L. Zhou;A. Tang;Y. Yang;Y. Dong;M. Li