Single particle analysis by cryo-electron microscopy
Single particle analysis by cryo-electron microscopy
复制标题
通过冷冻电子显微镜进行单颗粒分析
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Sriram Subramaniam
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yasuharu Kanki;Sagar Chittori;Doreen Matthies;Prashant Rao;Alan A. Merk;Sriram Subramaniam
