Understanding the Sidewall Dependence of Loss for Ge-on-Si Waveguides in the Mid-Infrared
Understanding the Sidewall Dependence of Loss for Ge-on-Si Waveguides in the Mid-Infrared
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了解中红外区硅基硅波导损耗的侧壁依赖性
DOI：
10.1109/group4.2019.8925756
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Griskeviciute U
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Griskeviciute U
