I.Tanaka: "Imaging and probing electronic properties of self-assembled InAs quantum dots by atomic force microscopy with conductive tip" App.Phys.Lett.74.6. 844-846 (1999)
I.Tanaka: "Imaging and probing electronic properties of self-assembled InAs quantum dots by atomic force microscopy with conductive tip" App.Phys.Lett.74.6. 844-846 (1999)
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I.Tanaka：“通过带有导电尖端的原子力显微镜成像和探测自组装 InAs 量子点的电子特性”App.Phys.Lett.74.6。
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