Sitc-specific elcctronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations

Sitc-specific elcctronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations
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通过通道 EELS 和第一原理计算进行特定 SiTC 电子结构分析

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Ultramicroscopy (印刷中)
影响因子:
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通讯作者:
I.Tanaka
I.Tanaka
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K.Tatsumi;S.Muto;Y.Yamamoto;H.Ikeno;S.Yoshioka;I.Tanaka

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