Taketo IKEUCHI, Yukinobu WATANABE, Weili SUN, Hideki NAKASHIMA: "Calculation of Light-Hadron Induced Single-Event Upset Cross Section for Semiconductor Memory Devices"J.of Nucl.Sci.and Technol. Suppl.2. 1380-1383 (2002)
Taketo IKEUCHI, Yukinobu WATANABE, Weili SUN, Hideki NAKASHIMA: "Calculation of Light-Hadron Induced Single-Event Upset Cross Section for Semiconductor Memory Devices"J.of Nucl.Sci.and Technol. Suppl.2. 1380-1383 (2002)
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Taketo IKEUCHI、Yukinobu WATANABE、Weili SUN、Hideki NAKASHIMA：“半导体存储器件的光强子诱导单粒子翻转截面的计算”J.of Nucl.Sci.and Technol。
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