Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy
Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy
复制标题
敲击模式原子力显微镜中高次谐波的小波分析
DOI：
10.1016/j.micron.2018.12.007
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发表时间：
2019-03-01
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
Lin，Rui
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wang，Zhenyu;Qian，Jianqiang;Lin，Rui
