Profiling Deep Learning Side-Channel Attacks Using Multi-Label against AES Circuits with RSM Countermeasure
Profiling Deep Learning Side-Channel Attacks Using Multi-Label against AES Circuits with RSM Countermeasure
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使用多标签针对 AES 电路和 RSM 对策分析深度学习侧通道攻击
DOI：
10.1587/transfun.2022cip0015
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takeshi FUJINO
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuta FUKUDA;Kota YOSHIDA;Hisashi HASHIMOTO;Kunihiro KURODA;Takeshi FUJINO
