Change of damping constant with microstructure in nanocrystalline YIG thin films on Si substrate
Change of damping constant with microstructure in nanocrystalline YIG thin films on Si substrate
复制标题
Si 衬底上纳米晶 YIG 薄膜阻尼常数随微观结构的变化
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Shima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Yamada;K. Kogiso;Y. Shiota;T. Moriyama;T. Ono;and M. Shima
