Measuring the Critical Strain of Crack Initiation in Thin Films for Flexible Organic Light Emission Diode
Measuring the Critical Strain of Crack Initiation in Thin Films for Flexible Organic Light Emission Diode
复制标题
测量柔性有机发光二极管薄膜中裂纹萌生的临界应变
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Kanematsu and T. Masuda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Kobayashi;J.Okamoto;Y. Utsumi;H. Kanematsu and T. Masuda
