Capacitance-voltage measurements on metal-SiO/sub 2/-diamond structures fabricated with
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复制标题
金属-SiO/sub 2/-金刚石结构上的电容-电压测量
DOI：
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B. Pate
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Geis;J. A. Gregory;B. Pate
