Gate-induced thermally stimulated current on a ferroelectric-like dielectric response observed in (BEDT-TTF)(TCNQ) crystalline FET
Gate-induced thermally stimulated current on a ferroelectric-like dielectric response observed in (BEDT-TTF)(TCNQ) crystalline FET
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在 (BEDT-TTF)(TCNQ) 晶体 FET 中观察到的类铁电介电响应上的栅极感应热刺激电流
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Kudo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Hanada;M.Ishiguro;M.Sakai;H.Yamauchi;M.Nakamura;K.Kudo
