Selective scanning electron microscope by photo electron beam from GaN semiconductor photocathode
Selective scanning electron microscope by photo electron beam from GaN semiconductor photocathode
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使用来自 GaN 半导体光电阴极的光电子束进行选择性扫描电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
西谷智博
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Nishitani,A. Narita;H. Iijima;A. Koizumi;D. Sato;S. Noda;Y. Arakawa;H. Shikano;Y. Honda and H. Amano;西谷智博
