Crystal structure and powder X-ray diffraction data for new Tb3CuAl3Ge2 compound
Crystal structure and powder X-ray diffraction data for new Tb3CuAl3Ge2 compound
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新型 Tb3CuAl3Ge2 化合物的晶体结构和粉末 X 射线衍射数据
DOI：
10.1017/s0885715614000955
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发表时间：
2015-02
影响因子：
0.5
通讯作者：
He, Wei
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zeng, Chao;Lin, Guoqiang;Zeng, Weijing;He, Wei
用Rietveld方法从粉末X射线衍射数据研究了新的Tb3CuAl3Ge2四元化合物的晶体结构。Tb_3CuAl_3Ge_2为六方Y3NiAl_3Ge_2结构，空间群为P-62M，晶胞参数为：a=7.0041(2)？，c=4.1775(1)？，V=177.48？3。每个晶胞中只有一个公式，Z=1，Tb_3CuAl_3Ge_2的密度为ρx=7.1696 g cm−_3。表征Rietveld精化结果的可靠性因子分别为Rp=6.43%，Rwp=8.65%，Rb=4.81%，RF=4.09%。给出了Tb3CuAl3Ge2的粉末X射线衍射数据，指标化的可靠性为F30=120.9(0.0073，34)。
The crystal structure of new Tb3CuAl3Ge2 quaternary compound was studied by the Rietveld method from powder X-ray diffraction (XRD) data. The Tb3CuAl3Ge2 compound crystallized in the hexagonal Y3NiAl3Ge2-type structure with space group P-62m (no. 189) and lattice parameters a = 7.0041(2) Å, c = 4.1775(1) Å, V = 177.48 Å3. There is only one formula in each unit cell, Z = 1, and the density of Tb3CuAl3Ge2 is ρ x = 7.1696 g cm−3. The reliability factors characterizing the Rietveld refinement results are R p = 6.43%, R wp = 8.65%, R B = 4.81%, and R F = 4.09%, respectively. The powder XRD data of Tb3CuAl3Ge2 were presented and the reliability of indexation is F 30 = 120.9(0.0073, 34).
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DOI：
10.1107/s0108270190005194
发表时间：
1990-12
期刊：
Acta Crystallographica Section C-crystal Structure Communications
影响因子：
--
作者：
J. T. Zhao;E. Parthé
通讯作者：
J. T. Zhao;E. Parthé
DOI：
10.1107/97809553602060000101
发表时间：
2005
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
S. Hall;B. McMahon
通讯作者：
S. Hall;B. McMahon
影响因子：
6.1
作者：
SMITH, GS;SNYDER, RL
通讯作者：
SNYDER, RL
DOI：
10.1107/97809553602060000001
发表时间：
2019-07
期刊：
International Tables for Crystallography
影响因子：
--
作者：
Carolyn Pratt Brock
通讯作者：
Carolyn Pratt Brock