Hideki Maruyama: "A practical measurement system for determination of refractive index and thickness using the low coherence interferometry"1999 Int'l Conf.Opt.Eng.for Sensing and Nanotech.(ICOSN'99). Vol.3740. 26-29 (1999)
Hideki Maruyama: "A practical measurement system for determination of refractive index and thickness using the low coherence interferometry"1999 Int'l Conf.Opt.Eng.for Sensing and Nanotech.(ICOSN'99). Vol.3740. 26-29 (1999)
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Hideki Maruyama：“使用低相干干涉测量法确定折射率和厚度的实用测量系统”1999 Intl Conf.Opt.Eng.for Sensing and Nanotech.(ICOSN99)。
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