Characterization of columnar-shaped InAs/GaAs quantum-dot structures using grazing incidence X-ray diffraction
Characterization of columnar-shaped InAs/GaAs quantum-dot structures using grazing incidence X-ray diffraction
复制标题
使用掠入射 X 射线衍射表征柱状 InAs/GaAs 量子点结构
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuuta Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kohki Mukai;Yuuta Kimura
