準安定原子誘起電子分光法によるO/Cs/SiC(3×3)表面の電子状態測定
準安定原子誘起電子分光法によるO/Cs/SiC(3×3)表面の電子状態測定
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亚稳态原子诱导电子能谱测量O/Cs/SiC(3×3)表面电子态
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
田中晶貴，飯田涼，柏谷拓実，渡邉拓斗，平山楓，田中悟，内藤正路，碇智徳
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木皓己;太子敏則;田中晶貴，飯田涼，柏谷拓実，渡邉拓斗，平山楓，田中悟，内藤正路，碇智徳
