K.Sasagawa (N.Nakamura, M.Saka and H.Abe): "Effect of Roundness Given to Corner of Angled Metal Line on Electromigration Failure" Proc.Interpack '97. (掲載予定). (1997)
K.Sasagawa (N.Nakamura, M.Saka and H.Abe): "Effect of Roundness Given to Corner of Angled Metal Line on Electromigration Failure" Proc.Interpack '97. (掲載予定). (1997)
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K.Sasakawa（N.Nakamura、M.Saka 和 H.Abe）：“成角金属线角的圆度对电迁移故障的影响”Proc.Interpack 97（即将出版）。
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