Seiji Nitta and Yuji Kimura: "Evaluation of Defects in TiN Thin Film by Various Electrochemical Techniques" Advance in Surface Engineering, Vol II : Process Technology. 39-47 (1997)
Seiji Nitta and Yuji Kimura: "Evaluation of Defects in TiN Thin Film by Various Electrochemical Techniques" Advance in Surface Engineering, Vol II : Process Technology. 39-47 (1997)
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Seiji Nitta 和 Yuji Kimura：“通过各种电化学技术评估 TiN 薄膜中的缺陷”表面工程进展，第二卷：工艺技术。
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