Global optimization of multilayer dielectric coatings for precision measurements.
Global optimization of multilayer dielectric coatings for precision measurements.
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用于精密测量的多层介电涂层的全局优化。
DOI：
10.1364/oe.513807
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
R. Adhikari
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
G. Venugopalan;Francisco Salces;K. Arai;R. Adhikari
我们描述了用于精密激光干涉测量的优化多层介质膜的设计。通过设置适当的成本函数，然后使用全局优化器在参数空间中找到最小值，我们能够实现满足光谱反射率，热噪声，吸收和涂层制造误差容限的设计要求的涂层设计。我们还提出了一个马尔可夫链蒙特卡罗（MCMC）为基础的参数估计算法，可以推断涂层中的介电层的厚度，给定的光谱反射率的测量的应用。这种技术可以是一个强大的诊断工具，为商业涂层制造商，和社区使用介质镜精密计量实验。
We describe the design of optimized multilayer dielectric coatings for precision laser interferometry. By setting up an appropriate cost function and then using a global optimizer to find a minimum in the parameter space, we were able to realize coating designs that meet the design requirements for spectral reflectivity, thermal noise, absorption, and tolerances to coating fabrication errors. We also present application of a Markov-Chain Monte Carlo (MCMC) based parameter estimation algorithm that can infer thicknesses of dielectric layers in a coating, given a measurement of the spectral reflectivity. This technique can be a powerful diagnostic tool for both commercial coating manufacturers, and the community using dielectric mirrors for precision metrology experiments.
GaAs/Al0 92Ga0 08As 布拉格反射镜中光热噪声的相干消除
影响因子：
2.4
作者：
T. Chalermsongsak;F. Seifert;E. D. Hall;K. Arai;D. Follman;G. D. Cole;M. Aspelmeyer;E. K. Gustafson;R. X. Adhikari
通讯作者：
R. X. Adhikari
影响因子：
35
作者：
Cole, Garrett D.;Zhang, Wei;Aspelmeyer, Markus
通讯作者：
Aspelmeyer, Markus
影响因子：
10.4
作者：
Robinson, John M.;Oelker, Eric;Ye, Jun
通讯作者：
Ye, Jun