Yushi KATO, Yoshiyuki KUBO and Shigeyuki ISHII: "Pulse Height Analysis Using Si-PIN Diode of X-ray Irradiated from a 2.45-GHzECR Multicharged Ion Source" Review of Scientific Instruments. Vol.68,No2(in press). (1998)
Yushi KATO, Yoshiyuki KUBO and Shigeyuki ISHII: "Pulse Height Analysis Using Si-PIN Diode of X-ray Irradiated from a 2.45-GHzECR Multicharged Ion Source" Review of Scientific Instruments. Vol.68,No2(in press). (1998)
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Yushi KATO、Yoshiyuki KUBO 和 Shigeyuki ISHII：“使用 2.45 GHzECR 多电荷离子源照射的 X 射线的 Si-PIN 二极管进行脉冲高度分析”科学仪器综述。
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