Distributions énergétiques des ions secondaires
Distributions énergétiques des ions secondaires
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二次离子能量分布
DOI：
10.1051/rphysap:0197300802010500
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发表时间：
1973
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G. Slodzian
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Blaise;G. Slodzian
利用配备在离子显微分析仪上的静电镜分析了二次离子的能量分布。结果主要涉及A+初级离子轰击纯金属和合金所发射的M+和M+n离子。结果表明，在低于20 eV的低能范围内，这些分布的差异是不同的。S总理关心的基本要素是M+et M+n Provenant de Métaux et d‘Alliance BombardéS Par des Ions Primares A+。L的口音是不同的方面，S不同的分布离子和能源，信息和20 EV的环境。
The energy distributions of secondary ions are analysed with the help of the electrostatic mirror that equips the ion microanalyser. The results concern primarely M+ and M+ n ions emitted by pure metals and alloys bombarded with A+ primary ions. Differences in the low energy range of the distributions, below 20 eV, are demonstrated.RésuméLes distributions énergétiques des ions secondaires ont été analysées par une méthode de contre-champ au moyen du miroir électrostatique qui équipe le micro-analyseur ionique. Les résultats présentés concernent essentiellement les ions M+ et M+ n provenant de métaux et d'alliages bombardés par des ions primaires A+. L'accent est mis sur les aspects très différents des distributions des ions de faible énergie, inférieure à 20 eV environ.