Lattice Orientation Imaging of C_60-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scanning Topography Using Charged-Coupled Device Detector
Lattice Orientation Imaging of C_60-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scanning Topography Using Charged-Coupled Device Detector
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使用电荷耦合器件探测器的微束扫描型 X 射线扫描形貌对 C_60-富勒烯单晶进行晶格取向成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
近浦吉則
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木芳文;近浦吉則
