Akinori Ohshita: "Influence of operating conditions of electron biprisms of three-electron-wave interference pattern"Proc. of the 15th International Congress on Electron Microscopy. 3. 315 (2002)
Akinori Ohshita: "Influence of operating conditions of electron biprisms of three-electron-wave interference pattern"Proc. of the 15th International Congress on Electron Microscopy. 3. 315 (2002)
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Akinori Ohshita：“三电子波干涉图案的电子双棱镜操作条件的影响”Proc。
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