Keiji Hayashi: "A Sensitive In Situ Method to Measure the Rate of Neuiral Free Radical Production by Photo-Deionization of Negative Ion Beams"Journal of Vacuum Science and Technology A. 20・3(in press). (2002)
Keiji Hayashi: "A Sensitive In Situ Method to Measure the Rate of Neuiral Free Radical Production by Photo-Deionization of Negative Ion Beams"Journal of Vacuum Science and Technology A. 20・3(in press). (2002)
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Keiji Hayashi：“通过负离子束光去离子测量神经自由基产生率的灵敏原位方法”真空科学与技术杂志 A. 20・3（出版中）。
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