チャージセンサによるシリコン2重結合量子ドットの少数電子状態観測
チャージセンサによるシリコン2重結合量子ドットの少数電子状態観測
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使用电荷传感器观察硅双键量子点中的少数电子态
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
堀部浩介,小寺哲夫,蒲原知宏,河野行雄,小田俊理
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Kurokawa;S. Kato;Y. Watanabe;A. Yamada;M. Konagai;Y. Ohta;Y. Niwa;and M. Hirota;堀部浩介,小寺哲夫,蒲原知宏,河野行雄,小田俊理
