等效位移损伤剂量法预测GaInP2/GaAs/Ge三结电池在轨性能退化规律
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DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
何世禹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吴宜勇;岳龙;胡建民;肖景东;陈鸣波;钱勇;杨德庄;何世禹
