2D spatial profile measurements of potential fluctuation with heavy ion beam probe on the Large Helical Device
2D spatial profile measurements of potential fluctuation with heavy ion beam probe on the Large Helical Device
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大型螺旋装置上重离子束探针电势波动的二维空间剖面测量
DOI：
10.1063/1.4963908
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发表时间：
2016
影响因子：
1.6
通讯作者：
T. Shimozuma
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Shimizu;T. Ido;M. Nishiura;S. Kato;K. Ogawa;H. Takahashi;H. Igami;Y. Yoshimura;S. Kubo;T. Shimozuma
