Contact to contacts or silicide by use of backside FIB circuit edit allowing to approach every active circuit node

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通过使用背面 FIB 电路编辑接触触点或硅化物,允许接近每个有源电路节点

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Microelectronics and reliability
影响因子:
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通讯作者:
C. Boit
C. Boit
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
R. Schlangen;P. Sadewater;U. Kerst;C. Boit

文献摘要

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