High precision 14C measurement with the HVEE Tandetron AMS system at Nagoya University.
High precision 14C measurement with the HVEE Tandetron AMS system at Nagoya University.
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使用名古屋大学的 HVEE Tandetron AMS 系统进行高精度 14C 测量。
DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
他
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Toshio Nakamura;Etsuko Niu;他
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影响因子:
8.3
作者:
Toshio Nakamura;S. Kojima;T. Ohta;H. Oda;A. Ikeda;M. Okuno;K. Yokota;Y. Mizutani;W. Kretschmer
通讯作者:
W. Kretschmer
DOI:
10.1016/s0168-583x(96)00615-5
发表时间:
1997
影响因子:
1.3
作者:
Toshio Nakamura;M. Okamura;K. Shimazaki;T. Nakata;N. Chida;Yasuhiro Suzuki;M. Okuno;A. Ikeda
通讯作者:
A. Ikeda
影响因子:
8.3
作者:
STUIVER, M;POLACH, HA
通讯作者:
POLACH, HA
DOI:
10.1016/0168-583x(84)90504-4
发表时间:
1984
影响因子:
1.3
作者:
N. Nakai;Toshio Nakamura;Masaya Kimura;T. Sakase;S. Sato;A. Sakai
通讯作者:
A. Sakai
影响因子:
1.5
作者:
Toshio Nakamura;N. Nakai;T. Sakase;Masaya Kimura;Shoji Ohishi;M. Taniguchi;Shigeo Yoshioka
通讯作者:
Shigeo Yoshioka