Ultrahigh temperature in situ transmission electron microscopy based bicrystal coble creep in zirconia I: Nanowire growth and interfacial diffusivity
Ultrahigh temperature in situ transmission electron microscopy based bicrystal coble creep in zirconia I: Nanowire growth and interfacial diffusivity
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基于超高温原位透射电子显微镜的氧化锆双晶铜线蠕变 I：纳米线生长和界面扩散率
DOI：
10.1016/j.actamat.2020.08.069
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
9.4
通讯作者：
García, R. Edwin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Vikrant, K.S.N.;Grosso, Robson L.;Feng, Lin;Muccillo, Eliana N.S.;Muche, Dereck N.F.;Jawaharram, Gowtham S.;Barr, Christopher M.;Monterrosa, Anthony M.;Castro, Ricardo H.R.;García, R. Edwin
这项工作展示了新的原位透射电子显微镜为基础的微尺度单晶界Coble蠕变实验，用于通过固态工艺在立方氧化锆在1200° C和2100° C之间生长纳米线。实验表明，Coble蠕变驱动形成的纳米线从凹凸接触在拉伸位移，这是证实了相场模拟。该实验也有利于有效地测量晶界扩散率和表面扩散率。10 mol% Sc 2 O 3掺杂的ZrO 2的阳离子晶界扩散系数D g B=（0.056±0.05）exp（− 380，000±41，000 RT）m 2 s− 1，表面扩散系数D s=（0.10±0.27）exp（− 380，000±28，000 RT）m 2 s− 1.
This work demonstrates novel in situ transmission electron microscopy-based microscale single grain boundary Coble creep experiments used to grow nanowires through a solid-state process in cubic ZrO 2 between≈ 1200° C and≈ 2100° C. Experiments indicate Coble creep drives the formation of nanowires from asperity contacts during tensile displacement, which is confirmed by phase field simulations. The experiments also facilitate efficient measurement of grain boundary diffusivity and surface diffusivity. 10 mol% Sc 2 O 3 doped ZrO 2 is found to have a cation grain boundary diffusivity of D g b=(0.056±0.05) exp (− 380, 000±41, 000 R T) m 2 s− 1, and surface diffusivity of D s=(0.10±0.27) exp (− 380, 000±28, 000 R T) m 2 s− 1.
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Anwendungsmöglichkeiten；
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Gerlach
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发表时间：
1982
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影响因子：
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作者：
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通讯作者：
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通讯作者：
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发表时间：
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H. Schaefer
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DOI：
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发表时间：
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通讯作者：
S. B. Chavan