Surface potential measurement and carrier density estimation for semiconductors by using Kelvin force microscopy
Surface potential measurement and carrier density estimation for semiconductors by using Kelvin force microscopy
复制标题
使用开尔文力显微镜测量半导体的表面电位和载流子密度
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Makoto ARITA
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fabi Zhang;Makoto Arita;Xu Wang;Zhengwei Chen;Katsuhiko Saito;Tooru Tanaka;Mitsuhiro Nishio;Teruaki Motooka;and Qixin Guo;Makoto ARITA
