Statistical Analysis of Random Telegraph Noise in Source Follower Transistors with Various Shapes
Statistical Analysis of Random Telegraph Noise in Source Follower Transistors with Various Shapes
复制标题
各种形状源极跟随器晶体管随机电报噪声的统计分析
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shigetoshi Sugawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinya Ichino;Takezo Mawaki;Shunichi Wakashima;Akinobu Teramoto;Rihito Kuroda;Phillipe Gaubert;Tetsuya Goto;Tomoyuki Suwa;Shigetoshi Sugawa
