Measurement of surface relaxation by MeV ion backscattering and channeling
Measurement of surface relaxation by MeV ion backscattering and channeling
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通过 MeV 离子背散射和沟道测量表面弛豫
DOI：
10.1016/0375-9601(75)90181-4
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发表时间：
1975
影响因子：
2.6
通讯作者：
R. L. Tapping
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Davies;D. P. Jackson;J. Mitchell;P. Norton;R. L. Tapping
[en] 离子通道技术已用于研究 Pt 的表面弛豫效应。 (111) 表面的初步结果表明向外弛豫为 0.31+-0.06 埃。（权威）
[en] The ion channeling technique has been used to investigate surface relaxation effects in Pt. Preliminary results for a (111) surface indicate an outward relaxation of 0.31+-0.06 angstroms.(Auth.)