低速電子線照射により極低温合成したカーボン膜のESRによる構造欠陥評価
低速電子線照射により極低温合成したカーボン膜のESRによる構造欠陥評価
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低速电子束辐照低温合成碳膜的ESR结构缺陷评价
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林直樹,山田竜太郎,年森隆明,森田直樹,佐藤哲也,有元圭介,山中淳二,中川清和
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kaneko;T. Nagano;K. Akiyama;T. Ito;M. Yasui;Y. Hirabayashi;H. Funakubo;and M. Yoshimoto;小林直樹,山田竜太郎,年森隆明,森田直樹,佐藤哲也,有元圭介,山中淳二,中川清和
