Atsushi TAGUCHI: "High precision instrument for micro surface profile measurement based on optical inverse scattering phase method"(To be presented at XVII IMEKO World Congress, Metrology in the 3rd Millennium, June 22-27,2003,Dubvovnik, Croatia).
Atsushi TAGUCHI: "High precision instrument for micro surface profile measurement based on optical inverse scattering phase method"(To be presented at XVII IMEKO World Congress, Metrology in the 3rd Millennium, June 22-27,2003,Dubvovnik, Croatia).
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Atsushi TAGUCHI：“基于光学逆散射相位法的微表面轮廓测量高精度仪器”（将于2003年6月22-27日在克罗地亚杜布沃夫尼克举行的第十七届IMEKO世界大会上发表，第三个千年的计量学）。
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