Transmission Electron Microscopy

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DOI：
10.1002/9780470727133.ch4
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发表时间：
2008-03
期刊：
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影响因子：
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通讯作者：
Ludwig Reimer;Helmut Kohl
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中科院分区：
其他
文献类型：
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作者：
Ludwig Reimer;Helmut Kohl

文献摘要

被引文献

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电子的粒子光学。—电子的波动光学。—透射电子显微镜的原理。—电子 - 样品相互作用。—散射和相位衬度。—电子衍射理论。—电子衍射模式及应用。—晶体样品及其缺陷的成像。—通过X射线和电子能量损失谱进行元素分析。—电子辐照对样品的损伤。
Particle Optics of Electrons.- Wave Optics of Electrons.- Elements of a Transmission Electron Microscope.- Electron-Specimen Interactions..- Scattering and Phase Contrast.- Theory of Electron Diffraction.- Electron-Diffraction Modesand Applications ..- Imaging of Crystalline Specimens and Their Defects..- Elemental Analysis by X-ray and Electron Energy-Loss Spectroscopy..- Specimen Damage by Electron Irradiation.