Calculation of RF sheath properties from surface wave-fields: a post-processing method
Calculation of RF sheath properties from surface wave-fields: a post-processing method
复制标题
从表面波场计算射频护套特性:一种后处理方法
DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Kohno H.
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Myra J. R.;Wright J. C.;Shiraiwa S.;Kohno H.