Watchdog Circuit for Product Degradation Monitor using Subthreshold MOS Current
Watchdog Circuit for Product Degradation Monitor using Subthreshold MOS Current
复制标题
使用亚阈值 MOS 电流监控产品劣化的看门狗电路
DOI：
10.7567/ssdm.2004.i-2-4
复制
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Taniguchi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Hirose;R. Yoshimura;T. Ido;T. Matsuoka;K. Taniguchi
