微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について
微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について
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关于内置TDC的扫描FF用于小延迟故障测试的设计
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
橋爪正樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
河塚信吾;四柳浩之; 橋爪正樹
