Predicting On-Orbit Static Single Event Upset Rates in Xilinx Virtex FPGAs

Predicting On-Orbit Static Single Event Upset Rates in Xilinx Virtex FPGAs
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预测 Xilinx Virtex FPGA 中的在轨静态单粒子翻转率

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
P. Graham
P. Graham
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Joshua Engel;K. Morgan;M. Wirthlin;P. Graham

文献摘要

被引文献

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本文档描述了基于CREME96轨道建模工具预测Xilinx Virtex现场可编程门阵列单粒子翻转率的方法。使用这种方法，获得了几种Xilinx Virtex现场可编程门阵列的SEU翻转率，包括Virtex、Virtex-II和Virtex-4。此外，还得到了每一种FGA在不同轨道上的单粒子翻转率。这项工作得到了洛斯阿拉莫斯国家实验室能源部的支持，合同编号为3862500102-97。
This document describes the methodology used to predict single-event upset rates for Xilinx Virtex FPGAs based on the CREME96 orbit modeling tool. Using this methodology, SEU upset rates are obtained for several Xilinx Virtex FPGAs including Virtex, Virtex-II, and Virtex-4. Further, SEU upset rates are obtained for a variety of orbits for each of these FPGAs. This work was supported by the Department of Energy, Los Alamos National Laboratory under contract number 3862500102-97.