放射光X線を用いた単結晶MEM解析による分子性物質系の分子軌道の直接観測
放射光X線を用いた単結晶MEM解析による分子性物質系の分子軌道の直接観測
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使用同步辐射 X 射线通过单晶 MEM 分析直接观察分子材料系统中的分子轨道
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
澤博
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Fujiyama;M. Takigawa;J. Kikuchi;H.-B. Cui;H. Fujiwara;and H. Kobayashi;澤博
