Direct observation of synchrotron-radiation-stimulated desorption of thin SiO2 films on Si(111) by scanning tunneling microscopy
Direct observation of synchrotron-radiation-stimulated desorption of thin SiO2 films on Si(111) by scanning tunneling microscopy
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通过扫描隧道显微镜直接观察 Si(111) 上 SiO2 薄膜的同步辐射刺激解吸
DOI：
10.1016/s0039-6028(99)00423-9
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
T. Urisu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Miyamae;H. Uchida;I. Munro;T. Urisu
影响因子：
1.4
作者：
P. Avouris;I. Lyo;F. Bozsó
通讯作者：
P. Avouris;I. Lyo;F. Bozsó