A FIB-SEM-based Method for High-Resolution Measurement of Morphological Parameters of Axospinous Synapses.
A FIB-SEM-based Method for High-Resolution Measurement of Morphological Parameters of Axospinous Synapses.
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基于 FIB-SEM 的轴棘突触形态参数高分辨率测量方法。
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Fukazawa Y
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Elhanbaly E;Ishikawa T;Ageta-Ishihara N;Kinoshita M;Fukazawa Y
