Contrast of near-field scanning millimeter-wave microscopy using a metal slit probe
Contrast of near-field scanning millimeter-wave microscopy using a metal slit probe
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使用金属狭缝探针的近场扫描毫米波显微镜对比
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Jongsuck Bae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tatsuo Nozokido;Manabu Ishino;and Jongsuck Bae
